测试模式下的脏包测量

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结婚,2016-10-19 23:32
# 1
luke.liu@litepo……
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测试模式下的脏包测量

我使用14580DEVKIT和固件full_emb_583.bin在测试模式。脏包测量在高电平(-70dBm)上似乎有一个下限(~8% PER)。根据规格，这不会发生。我已经看到这两个对话dut。你有更新的固件版本可以尝试吗?

路加福音

附件:
PDF图标每floor.pdf
设备:
DA14580
星期四,2016-10-20 16:57
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加入:2015-06-08 34
你好卢克,

你好卢克,

full_emb_58x。十六进制文件来自接近报告程序的源代码，如果你想要一个更新的fw执行一些测试，你可以编译和使用接近_从SDK5.0.4。

由于MT_dialog

星期四,2016-10-20 18:42
luke.liu@litepo……
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最后看到:4年7个月前
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我试过5。4和

我试了5。4，结果是一样的。你能转发给你的设计团队吗?或者你有联系方式吗?

路加福音

星期五,2016-10-21 16:17
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加入:2015-06-08 34
你好卢克,

你好卢克,

我正在和硬件和RF团队核对，我们使用Litepoint测试仪进行测试后会立即通知你，目前我们还没有看到任何问题。

由于MT_dialog

星期五,2016-10-21 17:56
luke.liu@litepo……
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最后看到:4年7个月前
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谢谢。你知道我们

谢谢。只是你知道我们对其他芯片供应商做同样的测试，不会观察到同样的问题。我还附上了设备的图片，以便您查看硬件版本。

附件:
包图标dialog_dut_litepoint.zip
星期四,2016-10-27 08:07
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你好卢克,

你好卢克,

我们通过电子邮件直接与您联系。

由于MT_dialog